Spettroscopia infrarossa di film sottili su scala nanometrica

Tra le attuali linee di ricerca sulla materia condensata, una delle pi├╣ dinamiche riguarda lo studio dei sistemi bidimensionali (2D), dal grafene agli isolanti topologici alle interfacce tra ossidi isolanti. Usando la spettroscopia infrarossa su sistemi 2D, il nostro gruppo ha studiato la metallizzazione delle interfacce tra manganiti [1] e dimostrato l'esistenza di plasmoni di Dirac negli isolanti topologici [2]. Ora vogliamo passare a unÔÇÖindagine su scala nanometrica di vari sistemi, partendo dai film sottili per passare a veri sistemi 2D, utilizzando lÔÇÖaccoppiamento tra una sorgente laser infrarossa tunabile e un microscopio a forza atomica, per svelarvi la presenza di disomogeneit├á e separazioni di fase come previsto da alcuni modelli teorici [3],[4]. [1] A. Perucchi et al., Nano Letters 10, 4819 (2010). [2] P. Di Pietro et al., Nature Nanotechnology 8, 556 (2013) [3] S. Caprara et al., Phys. Rev. B 88, 0200504 (R) (2013) [4] C. A. Perroni et a., Phys. Rev. B 64, 144302 (2001)
Responsabile Scientifico o Didattico: 
Paolo Calvani
SSD: 
FIS/03
estremi atto di conferimento: 
122
anno: 
2014
Tipo: 
Assegni di ricerca
oggetto: 
Titolo della ricerca
pdf_bando: 
AllegatoDimensione
PDF icon Calvani_122_2014383.76 KB
data scadenza: 
Domenica, 21 Dicembre, 2014 (All day)
posti: 
1
commissione bando: 
AllegatoDimensione
PDF icon Decreto_12_2015172.02 KB
Compenso: 
€uro 19 367.00
ufficio e responsabile procedimento: 
Ufficio Assegni di Ricerca e Ricercatori TD

L' Università degli Studi di Roma "La Sapienza" - Piazzale Aldo Moro 5, 00185 Roma